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2001/03/25
Á¤º¸Ãâó : http://www.aip.org/physnews/update/531.html
´ëÇü ¾î·¹ÀÌÀÇ Åº¼Ò ³ª³ëÆ©ºê FET(field-effect transistor)¸¦ ¸¸µå´Â ¹æ¹ýÀÌ IBMÀÇ Phaedon
Avouris[1]¿Í Philip Collins¿¡ ÀÇÇØ¼ °í¾ÈµÇ¾ú´Ù. ź¼Ò·Î ¸¸µé¾îÁø ³ª³ë¹ÌÅÍ[2] ³ÊºñÀÇ Æ©ºê´Â
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³²ÆÄ¸® ´ëÇб³ CNRS ¿¬±¸ÆÀÀÇ Mathieu Kociak[3]´Â ³ª³ëÆ©ºê ÁÙ ¹À½¿¡¼ÀÇ ÃÊÀüµµ¼ºÀ» ¼¼°è ÃÖÃÊ·Î
°üÃøÇÏ¿´´Ù°í[4] ¹ßÇ¥ÇÏ¿´´Ù. "ÀÌ´Â ³ª³ëÆ©ºê¿Í °°ÀÌ ¾ÆÁÖ ÀÛÀº ¼öÀÇ Àüµµ ä³ÎÀ» °¡Áø °è¿¡¼
ÃÊÀüµµ¼ºÀ» ÃÖÃÊ·Î °üÃøÇÏ¿´´Ù´Â °ÍÀ» ÀǹÌÇÕ´Ï´Ù."¶ó°í Kociak´Â ¸»ÇÏ¿´´Ù. ¿¬±¸¿øµéÀº ÇöÀç 300-400
¹Ð¸®Ä̺ó±îÁö ³·Ãß¾î¾ß ÇÏ´Â ÃÊÀüµµ »óÀüÀÌ ¿Âµµ¸¦ ÀûÀýÇÑ ¿ø¼ÒÀÇ µµÇÎÀ» ÅëÇÏ¿© ´õ ¿Ã¸± °èȹÀÌ´Ù.
ÇÑÆí, ÇÏ¹Ùµå ´ëÇÐÀÇ John Hafner´Â 0.9-2.8 ³ª³ë¹ÌÅÍ¿¡ ºÒ°úÇÑ Á÷°æÀ» °¡Áø ´ÜÀÏ ³ª³ëÆ©ºê¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ
Ãʹ̼¼ Çö¹Ì°æ¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸°á°ú¸¦ ¹ßÇ¥ÇÏ¿´´Ù. ÀÌ Çö¹Ì°æÀº ¸é¿ª ±Û·ÎºÎ¸°°ú °°Àº »ýüºÐÀÚ¸¦ °üÃøÇÒ ¶§
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ÈÇз Çö¹Ì°æ(CFM, chemical force microscopy)À̶ó°í ¸í¸íÇÏ¿´´Ù.
¸¶Áö¸·À¸·Î ÀϺ» NEC ¿¬±¸¼ÒÀÇ Masako Yudasaka[5]´Â C60 ºÐÀÚµéÀÌ ³ª³ëÆ©ºê ³»¿¡ ³Ö¾îÁö¸é ¾öû³ª°Ô
³ôÀº ¾Ð·ÂÀÌ ¹ß»ýÇÑ´Ù´Â ¿¬±¸°á°ú¸¦ ¹ßÇ¥ÇÏ¿´´Ù. C60ÀÇ ÈûÀº ³ª³ë´ºÅæ[6]¿¡ ºÒ°úÇÏÁö¸¸ ¾Ð·ÂÀ» °è»êÇϱâ
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°¡´ÉÇÒ °ÍÀ¸·Î º¸ÀδÙ.
[1] ¿¬¶ôó : ÀüÈ, ¹Ì±¹ 914-945-2722, avouris@us.ibm.com)
[2] 10¾ïºÐÀÇ 1 ¹ÌÅÍ
[3] ¿¬¶ôó : ÀüÈ, 33-169-155-342, kociak@lps.u-psud.fr
[4] Kociak et al., Physical Review Letters, 12 March 2001
[5] ¿¬¶ôó : 81-(0)298-50-1190, yudasaka@frl.cl.nec.co.jp
[6] ÈûÀÇ ´ÜÀ§, 10¾ïºÐÀÇ 1 ´ºÅæ
[7] ¾Ð·ÂÀÇ ´ÜÀ§, 10¾ï ÆÄ½ºÄ®